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編號 :

S430近紅外光譜分析儀

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市場價

重量

數(shù)量
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  • 詳細參數(shù)
  • 標準配置
  • 選購件
    • 商品名稱: S430近紅外光譜分析儀

    近紅外光譜分析儀(Near Infrared Spectroscopy Analyzer,NIR光譜儀)是一種常用的非破壞性分析儀器,用于對物質進行近紅外光譜分析。下面對近紅外光譜分析儀進行簡單介紹。

    近紅外光譜分析儀(Near Infrared Spectroscopy Analyzer,NIR光譜儀)是一種常用的非破壞性分析儀器,用于對物質進行近紅外光譜分析。下面對近紅外光譜分析儀進行簡單介紹。

    近紅外光譜分析儀工作原理:
    近紅外光譜分析基于樣品在近紅外波段(約700-2500 nm)吸收和散射特性來獲得相關信息。
    儀器通過發(fā)射一束寬帶的近紅外輻射,并測量經過樣品后返回的反射或透射信號。
    比較待測物質與參考標準之間的差異,利用數(shù)學算法建立模型,并根據(jù)模型預測待測樣品中的成分、含量或其他屬性。

    近紅外光譜分析儀特點和優(yōu)勢:
    1、非破壞性:不需要對樣品進行處理或破壞,可直接對固體、液體及氣體等不同形態(tài)的樣品進行檢測。
    2、快速:可以在幾秒鐘到幾分鐘內完成一次掃描和數(shù)據(jù)處理,提供即時結果。
    3、多參數(shù)檢測:可以同時檢測多個組分或屬性,在藥品、食品、化工等行業(yè)有廣泛應用。
    4、無需樣品制備:不需要對樣品進行處理、稀釋或前處理,降低了操作的復雜性和時間成本。

    近紅外光譜分析儀使用操作規(guī)程:
    1、根據(jù)使用說明書正確安裝儀器并連接所需電源和數(shù)據(jù)傳輸線。
    2、打開儀器電源,并根據(jù)實驗要求選擇合適的波長范圍及參數(shù)設置。
    3、準備好待測物質樣品,將其放置在樣品池或傳感區(qū)域中。
    4、啟動測量程序,在一定時間內記錄下讀數(shù)穩(wěn)定后的光強值或吸收譜線。
    5、根據(jù)需要進行多次測量以獲得平均值,并記錄相關數(shù)據(jù)。

    近紅外光譜分析儀是一種常用的非破壞性分析儀器,通過近紅外光譜技術獲取物質的吸收和散射信息來預測其組成、含量或其他屬性,了解其工作原理、使用操作規(guī)程以及優(yōu)勢可以幫助用戶正確使用和解讀檢測結果。

    項目

    內容

    儀器型號

    S430

    測量方式

    透射樣品池

    探測器

    日本濱松制冷型銦鎵砷(InGaAs)

    光譜帶寬nm

    8

    波長范圍nm

    900~2500

    波長準確度nm

    ±0.2

    波長重復性nm

    ≤0.05

    雜散光%

    0.1

    吸光度噪聲Abs

    0.0005

    分析時間

    1分鐘可調節(jié))

    數(shù)據(jù)傳輸方式

    USB2.0

    定標技術

    MPLS改進最小二乘法回歸定標技術

    DPLS光譜鑒定及定性分析技術

    關鍵詞 :
    • 近紅外光譜分析儀
  •  

    標準配置項目

    數(shù) 量

    近紅外分光光度計主機

    一 臺

    熔絲(2A

    2

    產品保修單 

    一份

       

    一 根

    USB 通訊電纜

    一 根

      

    一 份

    產品合格證明書 一 份
    產品使用說明書 一 本
    10mm 矩形比色皿(石英) 一盒(兩只)
         2mm 矩形比色皿(石英) 一盒(兩只)
    U 一只
    數(shù)據(jù)處理軟件(預置 U 盤內) 一份

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